Oberflächen präzise inspizieren und analysieren

Mit der „reflectCONTROL“-Sensorfamilie bietet Micro-Epsilon eine neue, hochpräzise Lösung zur Oberflächenprüfung in der Automobilindustrie. Das System erkennt kleinste Defekte und ermöglicht deren automatisierte Bearbeitung – und hebt die Lackqualitätskontrolle auf ein neues Level.

Oberflächenprüfung einer Karosserie
Die Sensoren werden auf Robotern montiert. Da die Karosserie dabei statisch bleibt, soll das Messergebnis verbessert werden. Foto: Micro Epsilon

Die Oberflächenprüfung auf spiegelnden Lackoberflächen stellt Automobilhersteller vor große Herausforderungen. Mit „reflectCONTROL“ bietet Micro-Epsilon eine innovative Sensorlösung, die auch kleinste Oberflächenfehler im Submikrometerbereich erkennt. Die Grundlage der Technologie bildet das Messprinzip der Deflektometrie, bei dem Sensoren ein Streifenmuster auf die Oberfläche projizieren. Daraus generiert das System präzise Reflektivitäts- und Krümmungsbilder, die Oberflächenabweichungen detailliert darstellen.

Vollautomatisierte Fehlererkennung und Bearbeitung

Die „reflectCONTROL“-Sensoren erkennen selbst winzige Defekte bei einer Auflösung von 185 μm. Für die Inspektion wird die Karosserie fixiert, während Roboterarme mit Sensoren die Oberfläche abtasten. Dies verbessert die Fehlererkennung erheblich und steigert die Abdeckung auf nahezu 100%. Alle Defekte werden dokumentiert und mit 3D-Merkmalen versehen. Das System ermöglicht zudem die automatisierte Bearbeitung der Defekte: In Zusammenarbeit mit ASIS und Virtek Vision setzt Micro-Epsilon Roboter ein, die Fehlstellen präzise schleifen und polieren, bevor ein Lasermarkiersystem bearbeitete Stellen kennzeichnet.

Datenbasis für intelligente Qualitätskontrolle

Die umfangreiche Datenerfassung und 3D-Rekonstruktion von Defekten ermöglicht es OEMs, die Daten in übergeordnete Qualitätssysteme zu integrieren und als Grundlage für Audits zu nutzen. KI-Algorithmen verarbeiten die gesammelten Daten und können neue Defektklassen definieren. Mit Heatmaps lassen sich Fehlerschwerpunkte identifizieren und Rückschlüsse auf Fehlerquellen ziehen, wodurch Frühwarnsysteme und Präventivmaßnahmen etabliert werden können.

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  • Details zur Deflektometrie und Datenverarbeitung
  • Einblicke in die automatisierte Defektbearbeitung und die Zusammenarbeit mit Partnerfirmen
  • Wie die Appearance-Auswertung zur Strukturanalyse der Oberfläche genutzt wird

Zum Netzwerken:

Micro-Episilon Messtechnik GmbH & Co. KG, Ortenburg, Konrad Steinhuber, Tel. +49 8542 168-0, konrad.steinhuber@micro-epsilon.at, www.micro-epsilon.de

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