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Lackschichten auf schwierigen Oberflächen messen

Ein aktuelles Forschungsprojekt der Fraunhofer-Institute IPA und IPT erlaubt die zerstörungsfreie Messung von sehr niedrigen Schichtdicken transparenter Lackschichten auf saugenden Substraten.

REM-Aufnahme
Die REM-Aufnahme zeigt eine Papieroberfläche ohne und mit Offsetdruck Foto: Fraunhofer IPA

Zu Beginn des Jahres 2022 wurde das IGF-Forschungsprojekt „Entwicklung eines Verfahrens zur interferometrischen Schichtdickenmessung“ abgeschlossen, das einen neuen Lösungsansatz zur Schichtdickenmessung von Lackschichten auf Substraten wie Karton und Papier untersucht. Der Ansatz lässt sich jedoch auch für Substrate wie Stahl und beschichtete Mikrobauteile oder in der Bandbeschichtung einsetzen. In dem Forschungsprojekt wurde die Optische Kohärenztomographie (OCT) als mögliches Messverfahren ermittelt. Das Verfahren findet sonst vor allem in der biomedizinischen Diagnostik Einsatz. Es handelt sich um ein zerstörungsfreies optisches Messverfahren, welches berührungslos und tomographisch Querschnittsbilder von (semi-)transparenten Werkstücken oder auch streuenden Proben generieren kann. Für das konventionelle OCT liegt eine Auflösungsgrenze von ~5 µm in axialer Richtung vor. Durch den Einsatz eines Superkontinuum-Lasers und spezieller Software konnte die Auflösung jedoch verbessert werden.

In BESSER LACKIEREN 12/2022 lesen Sie, welche Schichtdickenbereiche auf unterschiedlichen Substraten zuverlässig gemessen werden konnten.

Zum Netzwerken:

Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA, Stuttgart, Dr. Michael Hilt, Fraunhofer IPA, Stuttgart, Tel. +49 711 970-3820, michael.hilt@ipa.fraunhofer.de,
Thomas Hess, Tel. +49 711 970-1205, thomas.hess@ipa.fraunhofer.de, www.ipa.fraunhofer.de/beschichtung

Fraunhofer-Institut für Produktionstechnologie IPT, Aachen, Charlotte Stehmar, Tel. +49 241 8904-781, charlotte.stehmar@ipt.fraunhofer.de, www.ipt.fraunhofer.de

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